用途適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗; 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備; 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
執(zhí)行與滿足標準1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件;2.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術(shù)條件;3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件;4.GB2423.1-89低溫試驗Aa,Ab ; 5.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗Ca;6.MIL-STD810D方法502.2;7.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;8.GJB150.9-8 濕熱試驗;9.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗。10.IEC68-2-1 試驗A11.IEC68-2-2 試驗B 高低溫交變12.IEC68-2-14 試驗N
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